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日本SANKO三高超声波测厚仪薄膜厚度计

日本SANKO三高超声波测厚仪薄膜厚度计QuintSonic T
薄膜厚度测量的革命:利用优良光热发射方法

  • 产品型号:QuintSonic T
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-07-04
  • 访  问  量:192
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产品详情

日本SANKO三高超声波测厚仪薄膜厚度计QuintSonic T

日本SANKO三高超声波测厚仪薄膜厚度计QuintSonic T

测量金属和非金属
基材涂层厚度

特征


    • 对多层涂层(最多8层)进行无损涂层厚度测量

    • 塑料、玻璃纤维增强塑料(GRP)、CRP和金属涂层 • 木材和MDF(中密度纤维板)涂层 • 玻璃和陶瓷涂层、共挤出塑料薄膜层

    • 采用专有数字传感器技术SIDSP提升了准确性和重复性

    • 评估软件A-Scan直接显示在平板显示器上

    • 对于测量值的数据管理,可以导出Excel格式的数据,并创建PDF格式的测量报告

  • 规格:

  • 测量方法
    超声回声反射法
  • 测量范围
    356微米、890微米、1900微米、3900微米、7500微米(假设整层声速为2375米/秒)
  • 最小可测量薄膜厚度
    每层约为10微米(根据材料的声速而异)
  • 测量精度(垂直于光滑表面测量)
    ±(1微米+1%的读值)
  • 测量存储器
    约25万件(总计)
  • 计量单位
    μm、mm、mils
  • 最小测量面积
    11毫米
  • 最小分辨率
    0.1微米
  • 批次数量
    最多可达300
  • 统计显示功能
    测量次数、最小值、最大值、均值、标准差、变异系数、块统计、群体统计、点统计
  • 电源
    1200mAh
  • 工作温度
    5~50°C(无冷凝)
  • 尺寸
    液晶10.1英寸
  • 重量
    1.1公斤

    日本SANKO三高超声波测厚仪薄膜厚度计








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