OTSUKA/大塚电子测量仪器显微光谱仪薄膜厚度计OPTM系列OPTM-A3
OPTM是一种通过显微光谱测量极小区域绝对反射率，实现高精度胶片厚度和光学常数分析的设备。
它可以测量涂层薄膜的厚度，如各种薄膜、晶圆和光学材料，以及多层薄膜，且不会破坏或接触。 测量时间为每点1秒，速度极快。 此外，它还配备了软件，即使是初学者也能轻松分析光学常数。

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