OTSUKA/大塚电子测量仪器量子效率测量系统 QE-2100

绝对量子效率（绝对量子产率）可以瞬间测量。 我们处理粉末样品、溶液样品、固体（薄膜）和薄膜样品。 低推测多通道光谱仪大幅减少紫外区的杂散光。 此外，采用集成半球单元实现了明亮光学系统，利用这一优势，重激发荧光校正实现了高精度测量。 此外，它支持温度依赖性的量子效率测量，以及从紫外到近红外的宽波长范围。

OTSUKA/大塚电子测量仪器量子效率测量系统 QE-2100

OTSUKA/大塚电子测量仪器量子效率测量系统 QE-2100

产品信息

• 绝对量子效率（绝对量子产额）的即时测量是可能的。

• 可以去除重新激发的荧光发射。

• 采用积分半球单元实现了明亮光学系统

• 采用低散射光多通道分光光度计，极大减少了紫外区的杂散光。

• 通过温度控制函数（50~300°C），可以测量量子效率（量子屈服率）对温度的依赖性。

• 兼容从紫外到近红外的宽带规范（300~1600nm）

• 使用专用软件操作简便

• 样品测量单元的轻松安装和拆卸

• 紧凑设计，空间最小

• 通过使用光谱仪式激发光源，可以选择任意波长。

• 通过在软件中指定激发波长和阶跃值，可以实现自动测量。

• 支持粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品

• 广泛的分析特征

• 量子效率（量子产率）测量

• 激发波长依赖测量

• 荧光谱测量

• PL激发谱测量

• 激发发射矩阵（EEM）测量

• LED和有机电磁电光元件磷光粉的量子效率（量子产率）测量

• 薄膜样品透射率和反射荧光
  量子效率（量子产率）测量——用于远程膋石等的荧光样品等。

• 量子点、荧光探针、生物场、封装化合物等的荧光测量。

• 染色敏感太阳能电池量子效率（量子产率）测量

• 复杂化合物的测量