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产品型号：RE-200厂商性质：经销商更新时间：2026-08-05访 问 量：136
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OTSUKA/大塚电子测量仪器高速重放测量装置RE-200
OTSUKA/大塚电子测量仪器高速重放测量装置RE-200
实现从0nm到的低（残差）延迟测量
实现高速延迟（Re.）测量与光轴
检测同时实现（相当于快处理速度，时间少于0.1秒）
没有驱动部件，实现了高重复性
需要设置的测量项目更少，测量更简单。
除了测量550nm波长外，我们还提供多种波长系列
可
实现右向测量和全方向角度测量（需选配自动旋转倾斜夹具）
通过与拉伸测试机结合，可以同时评估薄膜的光弹性与偏振特性
（该系统为定制）。 ）
延迟（ρ[deg.]， Re[nm]）
主方位角 （θ[deg.]）
椭圆率（ε）和方位角（γ）
三维折射率（NxNyNz）
相位对比胶片、偏振胶片、椭圆胶片、可视角改善胶片、各种功能胶片
透明且各向异性的材料，如树脂或玻璃（如玻璃畸形、畸变等）
| 类型 | RE系列 |
| 样本量 | 最小10×10毫米 ~ 最大100×100毫米 |
| 测量波长 | 550nm（标准规格）*1 |
| 诉讼测量范围 | 大约0nm ~ 约1μm |
| 轴检测的重复性 | 0.05°（3σ处）※2 |
| 探测器 | 偏振测量模块 |
| 测量点状直径 | 2.2毫米×2.2毫米 |
| 光源 | 100瓦卤素灯泡或LED光源 |
| 主体与重量 | 300（W） × 560（H） ×430（D） 毫米，约20公斤 |
*1 其他波长可选
*2 晶体波长板（约55nm，两片式）
可进行Rth测量和全方向角度测量。*夹具体（旋转：180°，倾斜角度：±50°）
自动旋转倾斜夹具
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