TEKHNE 泰克内 镜面式高精度露点仪 MBW973 采用冷镜式光电测量原理，露点测量精度 ±0.1℃dp，测量范围 - 60～+20℃dp 可扩展，彩色 LCD 显示，支持数据记录与通讯，多用于计量实验室校准、半导体工艺气体检测、标准气体制备、高精度气体水分分析。

TEKHNE 泰克内 镜面式高精度露点仪 MBW973 是 TEKHNE 的高精度实验室级露点设备，采用经典冷镜式测量原理，通过精确控制镜面温度，光电检测露水凝结点，实现微量水分的高精度测量，是国内计量机构、第三方检测、专业制造业的常用标准露点设备。设备核心为高精度冷镜测量腔，镜面由铂电阻精确控温，当气体流过镜面时，降低镜面温度至水蒸气刚好凝结，通过光电传感器检测结露瞬间的镜面温度，即为露点温度。测量精度可达 ±0.1℃dp，重复精度 ±0.05℃dp，测量结果可溯源至温度基准，具备计量传递能力。标准量程 - 60～+20℃dp，可根据需求扩展高温量程至 + 95℃dp，适配不同湿度范围的气体。主机配备彩色 LCD 显示屏，可显示露点温度、体积比 ppmv、质量比 g/kg 等多种单位，支持数据自动记录，内置存储器保存测量历史。通讯接口标配 RS-232C，可选 LAN 接口，可连接电脑实现远程控制、数据采集与报表生成。具备自动零点校准功能，定期自动修正镜面污染带来的漂移，延长维护周期。可根据应用场景选择通用气体版、SF6 专用版、天然气专用版等不同配置，分别适配不同气体介质的测量。台式机箱结构，适合实验室工作台放置；工作环境要求 10～35℃恒温环境，保证测量精度。设备出厂经过一级标准露点装置校准，附带原厂校准证书，可送检法定计量机构出具检定证书，作为计量标准使用。日常维护需定期清洁镜面，避免油污、粉尘污染镜面影响测量精度；镜面属于精密光学部件，操作需避免磕碰。

TEKHNE 泰克内 镜面式高精度露点仪 MBW973 为实验室与工业现场提供高精度的露点测量与计量标准，广泛应用于计量校准、半导体工艺气体检测、标准气体制备、专业制造气体监控、科研分析等场景。