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NIKON 尼康高精度数显测高仪

NIKON 尼康高精度数显测高仪为 DIGIMICRO 系列 MH-15M 主机配 TC-200 高精度显示器成套,测量范围 0~15mm,精度高达 0.7μm(20℃),最小读数 0.01μm,是 DIGIMICRO 系列中精度最高的型号,适合量块校准、薄片厚度、微米级高差等超精密测量场合。

  • 产品型号:MH-15M+TC-200
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-10-28
  • 访  问  量:14
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产品详情

NIKON 尼康高精度数显测高仪 MH-15M 是 DIGIMICRO 系列中的超高精度型号,虽然量程只有 15mm,但精度达到 0.7μm,最小读数 0.01μm(即 10nm),是尼康接触式长度测量的顶级产品。

MH-15M 测量头行程 0~15mm,配套 TC-200 高精度显示器。TC-200 比 MFC-200 高一个等级:MFC-200 最小读数 0.1μm,TC-200 最小读数 0.01μm,可切换 0.05μm、0.1μm、1μm、5μm 档位。精度方面,MH-15M + TC-200 整套系统精度 0.7μm(20℃),是 DIGIMICRO 系列中精度最高的组合。

测量力方面,MH-15M 向上 0.245N、向下 0.637N、侧向 0.441N,带提升释放装置。响应速度 100mm / 秒,比 MF 系列慢,因为要保证高精度。测量头本体重约 220g,是三个型号中最轻的。

选型逻辑:MF-1001 测 0~100mm(精度 3μm),MF-501 测 0~50mm(精度 1μm),MH-15M 测 0~15mm(精度 0.7μm,分辨率 0.01μm)。量程越小精度越高。如果被测尺寸在 15mm 以内且需要纳米级分辨率,选 MH-15M + TC-200。

典型应用:量块和标准件的校准比对、硅片和晶圆厚度测量、光学薄膜厚度检测、微小零件高度差测量、半导体晶片翘曲度测量、精密模具 0.01mm 级高差检测。在计量室和半导体车间,MH-15M 是作为传递标准使用的精密仪器。

NIKON 尼康高精度数显测高仪以 0.01μm 超高分辨率、0.7μm 系统精度为特点,是 DIGIMICRO 系列的旗舰型号,服务于精密计量和半导体制造领域。


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