日本TOPCON二维光谱辐射计亮度计SR-5100
日本 TOPCON 二维光谱辐射计亮度计 SR-5100 是一款高性能的光测量仪器，属于 SR-5000 系列

日本TOPCON二维光谱辐射计亮度计SR-5100

日本TOPCON二维光谱辐射计亮度计SR-5100

• 产品特点：

• 高分辨率与宽量程：具备 500 万像素（2448×2048）的高分辨率，可实现 0.5～170 亿 cd/m² 的高亮度分光测量，能同时测量极低亮度和超高亮度的物体。

• 非接触测量：采用非破坏、非接触的方式，可对光源的波长特性、材料的分光透过率特性、物体的分光反射率特性等进行高精度的 500 万点分光评价。

• 高精度保证：使用具有光的可追溯性的光源进行校正，能实现高精度的亮度和色度精度保证。

• 双测量模式：支持分光和 XYZ 滤镜两种测量模式，可根据需求发挥各优点，是兼具精度及速度的机型。

• 配套软件：标准配置专用软件，方便数据处理和分析。

• 主要用途：

• 显示技术领域：可用于 LCD、OLED、QD、激光、Micro LED 及关联材料等的亮度、色度、分光光谱的评价。

• 汽车领域：能对汽车仪表盘及内外装照明的发光分布特性、分光光谱进行评价。

• 照明领域：适用于 LED 照明、OLED 照明的发光部的亮度、色度均匀性、分光光谱均匀性的评价。

• 其他领域：还可用于纤维染织物的分光光谱评价、肌肤护理相关评价、吸收反射穿透特性分析、光学膜及涂层的不均匀和干涉条纹测量，以及病理组织的染色状态差异解析及量化评价等。

• 技术规格：

• 受光器：采用 500 万像素 CMOS 图像传感器。

• 对物镜头：有多种选择，标准镜头 f=32mm，搭配广角附加镜时 f=24mm，望远镜头 f=140mm，还有微距镜头可选。

• 测量波长范围：380～780nm。

• 波长精度：±0.5nm（Hg 辉线，高精度模式时）。

• 光谱波长幅：7nm（半值幅）。

• 波长分辨率：1nm。

• 直线性：亮度在 ±2% 以内；色度根据不同型号和测量范围有所不同，如 SR-5100HWS/SR-5000HM 在≦1cd/m² 时，色度 ±0.0035 以内，1cd/m²＜时，色度 ±0.0025 以内。

• 面内不均一性：亮度 ±2% 以内，色度 ±0.003 以内。

• 重复精度：不同型号有所差异，如 SR-5100HWS/SR-5000HM 亮度在≦1cd/m² 时，重复精度 0.6% 以内，1cd/m²＜时，0.5% 以内。

• 接口：USB3.0 / 外部触发。

• 电源：专用 AC 适配器，AC100～240V（50/60Hz）。

• 消费电力：约 20W。

• 外形尺寸：不包含凸起部分，广角为 W162×H247×D402.4mm，望远为 W162×H247×D412.5mm，微距为 W162×H247×D330.5mm。

• 质量：广角约 6.3kg，望远约 8.2kg，微距约 5.8kg。