OTSUKA/大塚电子测量仪器延迟测量装置 RETS-100nx

这是一种与各种胶片兼容的文字测量装置，包括用于OLED的偏光片、层压相差胶片以及带有IPS液晶相差胶片的偏光片。
实现高速高精度测量，支持超高Re.60000nm。
可以测量胶片的层压状态，而不剥落或破坏胶片。
此外，在操作方面，它配备了易于使用的软件和校正功能，以解决样品重新定位引起的错位，实现简单且高精度的测量。

Name: 测量仪器延迟测量装置RETS-100nx
Brand: OTSUKA/大塚电子
Availability: InStock

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产品详情

OTSUKA/大塚电子测量仪器延迟测量装置 RETS-100nx

产品信息

特色

我们专有光谱仪实现的高精度测量

■ 高精度

通过多波长测量实现

测量仪器延迟测量装置高精度
<高精度的原因>
·使用
专有高性能多通道光谱仪 ·提供大量透射信息，实现高精度
测量（获得的透射信息约为500个波长，约为其他公司产品的50倍。

■ 宽测量范围（延迟范围：0 ~ 60,000nm）

测量仪器延迟测量装置

■ 理解延迟波长色散的形状

测量仪器延迟测量装置

超高折射测量——支持超双折射薄膜的高速高精度测量——

■ 高留任率
测量仪器延迟测量装置

多层测量——测量薄膜的各种堆叠状态，避免剥落且无损——

测量仪器延迟测量装置

轴角校正函数——即使样品位置不对准，测量依然简单且准确——

■ 将样品重新定位10次，并比较有无角度校正的结果
【样品：相差胶片R85】

测量仪器延迟测量装置

简单的软件——显著缩短测量和处理时间。极大提升的可用性——

测量仪器延迟测量装置

地理位置

类型	延迟测量装置 RETS-100nx
测量项目（胶片、光学材料）	延迟（波长色散）、慢相位轴、Rth^1三维折射率^1以及更多
测量项目（偏振片）	吸收轴、偏振、消光比、各种色度、不同透射率等等。
测量项目（液晶单元）	单元间隙，倾斜前角度^*1、扭转角、方向角等。
诉讼测量范围	0 ~ 60,000 nm
延迟可重复性	3σ≦0.08nm（晶体波长板，约600nm）
单元间隙测量范围	0 ~ 600微米（当Δn=0.1时）
单元间隙重复性	3σ≦0.005μm（当细胞间隙约为3μm且Δn=0.1时）
轴检测的重复性	3σ≦0.08°（晶体波长板，约600nm）
测量波长范围	400 ~ 800nm（有其他选项）
探测器	多通道光谱仪
测量直径	φ2mm（标准规格）
光源	100W卤素灯
数据处理部门	个人电脑、显示器
舞台尺寸：标准	100毫米×100毫米（固定级）
选项	·超高延迟测量 ·多层测量 ·轴角校正功能・自动XY级・自动倾斜旋转级