OTSUKA/大塚电子测量仪器测量仪器全光通量测量系统 HM系列
除了能够高精度薄膜分析的光谱镜片偏度外，我们还实现了自动调节角度测量机制，能够处理各种类型的薄膜。 除了传统的旋转光度计方法外，通过引入相位差板的自动安装和拆卸机构，提高了测量精度。

OTSUKA/大塚电子测量仪器测量仪器全光通量测量系统 HM系列

OTSUKA/大塚电子测量仪器测量仪器全光通量测量系统 HM系列

产品信息

• 支持直管灯管的全光通量测量，最高可达2400毫米

• 符合IESNA的LM-79和LM-80标准的测量系统

• 采用新型探测器实现了宽动态范围测量

• 测量单元（积分球体或积分半球）尺寸范围从
  φ250mm到φ3000mm，具体取决于应用。

• 支持L-I-V测量、脉冲点测量和样品温度控制测量。

• 支持脉宽调制（PWM）调光

• 全束 [JIS C 7801 / JIS C 8152]

• 总径向波束

• 光谱总辐射通量（光谱）

• 等色标准差（SDCM）

• 色度坐标 （u， v） [JIS Z 8725]

• 色度坐标 （x， y） [JIS Z 8724]

• 色度坐标 （u'， v'） [JIS Z 8781-5]

• 相关色温与双色度 [JIS Z 8725]

• 主导波长和刺激纯度 [JIS Z 8781-3]

• 显色性评估编号（Ra，R1~R15）[JIS Z 8726]

• 峰值波长

• 特色
  

• 光源的光源光线方向可以改变，从而在实际使用条件下进行测量。

• 排除除发光部分外的所有分量，从而消除吸收误差

• 积分空间减半会使亮度（灵敏度）翻倍

• 非常适合测量表面光源的全光通量

• 由于除发射面外，其他部分均可置于积分半球之外，样品温度调节较为简单
  （兼容高输出光源）。

• 它消除了样品光源本身的阴影效应，非常适合大型样品
  （支持积分球直径的三分之一）。