HORIBA 堀场 激光衍射式粒度分布分析仪 Partica LA-960V2 采用双光源激光衍射技术，测量范围覆盖 10nm～5mm，支持湿法与干式测量，±0.6% 测量精度，15 秒快速分析，广泛用于粉体材料、磨料磨具、制药食品、化工颜料、半导体粉体的粒度分布检测与品质控制。

HORIBA 堀场 激光衍射式粒度分布分析仪  Partica LA-960V2是堀场 Partica 系列的旗舰粒度检测设备，采用双波长激光光源与优化的光学系统，结合米氏散射理论算法，测量范围宽、精度高、分析速度快，适配粉体、浆料、乳液、气溶胶等多种样品，是材料、化工、制药、半导体等行业粒度检测的主流设备。设备基于激光衍射测量原理，平行激光束照射样品时，颗粒产生衍射 / 散射光，不同粒径颗粒的散射光角度不同，通过环形检测器检测不同角度的散射光强度，反演计算得到颗粒的粒度分布。采用红色 650nm 与蓝色 405nm 双光源组合，兼顾大颗粒衍射与小颗粒散射，实现 10nm 到 5mm 的宽范围测量，无需更换模块。标配湿式测量单元，可分析水相、有机相的浆料、乳液样品；可选配干式测量单元，实现粉体、气溶胶的干法粒度检测。测量精度 ±0.6%（相对于 NIST 可追溯标准颗粒），重复性 CV≤0.5%，数据准确可靠；单次分析时间≤15 秒，快速得到结果，提升检测效率。内置自动清洗、自动排样功能，降低人工操作强度，减少交叉污染。配套专业粒度分析软件，支持分布曲线、特征粒径、比表面积计算、报告生成等功能，数据可导出，符合实验室数据管理规范。

HORIBA 堀场 激光衍射式粒度分布分析仪 支持多种分散条件设置，可根据样品特性调节搅拌速度、超声功率、循环流量，实现样品充分分散又不破坏颗粒。设备出厂经过标准颗粒校准，附带原厂检验报告；可按需提供第三方计量校准证书，满足计量验收要求。安装需放置在平稳水平实验台，避免振动与阳光直射；定期进行标准颗粒核查，保障测量准确性。该粒度分析仪广泛应用于粉体材料品质管控、磨料磨具粒度检测、制药粉体与混悬液检测、化工颜料填料粒径分析、半导体抛光粉粒度控制，为各类颗粒样品提供精准、高效的粒度分布检测方案。