HORIBA 堀场 动态光散射纳米颗粒分析仪 nanoPartica SZ-100V2 采用动态光散射原理，粒径测量覆盖 0.3nm～8μm，高稳定氦氖激光，最小样品量 10μL，支持粒径、浓度、zeta 电位、分子量多参数检测，广泛用于纳米材料、生物医药、化工胶体、半导体浆料、环境监测的纳米颗粒表征。

HORIBA 堀场 动态光散射纳米颗粒分析仪  nanoPartica SZ-100V2是堀场面向纳米颗粒检测的主力机型，采用光子相关光谱（动态光散射）技术，检测速度快、样品用量少、灵敏度高，可实现纳米级颗粒的粒径、浓度、zeta 电位、分子量等多参数表征，是纳米材料、生物医药、胶体化学等领域的核心分析设备。设备基于动态光散射测量原理：激光照射纳米颗粒悬浮液时，颗粒布朗运动导致散射光强度随时间波动，通过检测波动频率，利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程计算颗粒粒径。采用高稳定氦氖激光（532nm），光强稳定、噪声低，配合高灵敏度光子检测器，实现 0.3nm 到 8μm 的宽范围粒径检测，覆盖从小分子团聚到亚微米颗粒的纳米区间。标配粒径与浓度测量，可选配 zeta 电位测量单元、分子量测量单元，一台设备实现多参数表征。最小样品量仅 10μL，适合珍贵样品与少量样品检测；温控范围 4～90℃，可模拟不同温度下的颗粒分散状态。粒径测量精度 ±2%（相对于 NIST 可追溯标准纳米颗粒），数据准确可靠。

HORIBA 堀场 动态光散射纳米颗粒分析仪 配套专业分析软件，支持多峰拟合、分布曲线、相关函数显示、数据导出、报告生成，操作直观。内置自动清洗功能，减少交叉污染；支持批量样品自动测量，提升检测效率。设备出厂经过标准纳米颗粒校准，附带原厂检验报告；可按需提供第三方计量校准证书。安装需放置在平稳实验台，避免振动与强光干扰；定期用标准颗粒核查性能，保障检测准确性。该纳米颗粒分析仪广泛应用于纳米材料粒径表征、生物医药蛋白与纳米药物检测、化工胶体与乳液稳定性分析、半导体浆料颗粒控制、环境纳米污染物检测，为纳米尺度颗粒提供精准、多维度的表征方案。