OTSUKA/大塚电子测量仪器胶片厚度监视器 FE-300F

这是一种紧凑、低成本的薄膜厚度计，便于高精度光学干涉薄膜厚度测量。
我们采用了一体化外壳，将必要设备置于主机内，实现稳定的数据采集。
尽管成本低廉，获得绝对反射率还使得光学常数的分析成为可能。

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