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产品型号：SM-100P厂商性质：经销商更新时间：2026-08-05访 问 量：164
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OTSUKA/大塚电子测量仪器智能薄膜测厚仪 SM-100 系列SM-100P
OTSUKA/大塚电子测量仪器智能薄膜测厚仪 SM-100 系列SM-100P
“便携式"，仅1.1公斤，轻便便携
“高精度测量与简易测量" 可测量至0.1微米的薄度，无需校准曲线
“兼容多层薄膜"——能够测量多达3层多层薄膜
“无损非接触式测量"允许测量而不损坏样品
“测量各种样品"——无论基材（玻璃还是塑料）都可以测量
| 项目 | 优点 | 标准 |
| 类型 | SM-100P | SM-100S |
| 测量方法 | 反射光谱学（光学干涉仪） | |
| 测量薄膜厚度范围*1 | 0.1~100微米（单层） 1~100微米（多层） | 1~50微米（单层） |
| 多层支持 | 最多三层 | 一楼 |
| 测量重复性 | 2.1σ 0.01μm（氧化硅薄膜 1μm） | |
| 测量点状直径 | Φ1mm或更小 | |
| 数据输出格式 | 导出文本格式到 USB 存储器 | |
| 主单位规模 | 约138（西）×198（D）×61（H）毫米 *包括突出部 | |
| 重量 | 大约1.1公斤 | |
| 运行时间 | 测量时4小时或更久 | |
| 电源电压 / 功率 | AC100-240V/35VA（交流适配器输入） | |
| 保护级别 | IP30/IK06 | |
*1 当样品折射率为1.6时
·光学薄膜
・涂层薄膜
（防反射薄膜、粘合层等）
·半导体
（氧化膜、抗阻薄膜等）
·各种薄膜
（ 食品影片、医学影片、建筑材料影片等）
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